Opiekunowie koła:

dr inż. Sylwia Hajdasz
dr hab. inż. Paweł Szcześniak, prof. UZ
dr Beata Zięba

1.     Cel spotkania

Głównym celem wydarzenia było zapoznanie uczestników z najnowszymi rozwiązaniami z zakresu zaawansowanej mikroskopii cyfrowej oraz metrologii. Spotkanie miało charakter warsztatowo-pokazowy, a jego centralnym punktem była prezentacja możliwości flagowego mikroskopu cyfrowego firmy Keyence – systemu z serii VHX i obserwacje taśm nadprzewodnikowych z wykorzystaniem najnowszych technik mikroskopowych.

2.     Przebieg spotkania: Część teoretyczna

Wydarzenie rozpoczęło się od krótkiego wprowadzenia na temat profilu działalności firmy Keyence, która jest globalnym liderem w dziedzinie automatyki przemysłowej i sprzętu kontrolno-pomiarowego. Następnie prowadzący przeszedł do omówienia kluczowych cech mikroskopu VHX. Wśród najważniejszych innowacji technologicznych wymieniono:

• ponadprzeciętną głębię ostrości: pozwalającą na ostre obrazowanie obiektów o znacznych nierównościach i zróżnicowanej topografii, co w tradycyjnych mikroskopach optycznych jest często niemożliwe,
• obserwację pod różnymi kątami: dzięki w pełni zautomatyzowanemu i ruchomemu statywowi, użytkownicy mogą oglądać próbki z dowolnej perspektywy bez konieczności ich fizycznego ruszania,
• profilowanie i pomiary 3D: funkcję szybkiego skanowania powierzchni i tworzenia dokładnych, trójwymiarowych modeli badanych detali,
• zintegrowane oświetlenie i funkcję HDR: umożliwiające redukcję odblasków na elementach metalowych (np. ścieżkach na płytkach PCB) oraz wydobycie detali z obszarów zacienionych.

3.     Pokaz praktyczny

Druga część spotkania miała charakter warsztatowy. Przedstawiciel firmy Keyence zaprezentował działanie mikroskopu na żywo, analizując przygotowane wcześniej próbki (m.in. luty na płytkach drukowanych, uszkodzenia mechaniczne przewodów oraz struktury materiałowe).

Uczestnicy spotkania mieli również unikalną okazję, aby samodzielnie przetestować urządzenie na własnych, przyniesionych próbkach. Podczas testów zaprezentowano intuicyjny interfejs oprogramowania, który w zaledwie kilka kliknięć pozwalał na:

1. pomiary odległości, kątów i promieni bezpośrednio na ekranie,
2. analizę chropowatości powierzchni,
3. automatyczne zliczanie obiektów (np. zanieczyszczeń lub cząsteczek),
4. błyskawiczne generowanie gotowych raportów z badań w formacie PDF i Excel.

4.     Panel dyskusyjny

Pokaz możliwości sprzętowych wywołał duże zainteresowanie i zaowocował aktywną dyskusją. Studenci dopytywali prelegenta o szczegóły techniczne, w tym m.in. o:

• maksymalne powiększenia i rozdzielczość matrycy,
• możliwość integracji systemu z oprogramowaniem zewnętrznym,
• koszty wdrożenia takiego systemu w środowisku przemysłowym oraz w laboratoriach R&D,
• przykłady najciekawszych wdrożeń mikroskopów VHX w polskich zakładach produkcyjnych (np. w branży automotive czy elektronicznej).

5.     Podsumowanie i wnioski

Spotkanie z przedstawicielem firmy Keyence stanowiło niezwykle cenne doświadczenie edukacyjne. Wizyta pozwoliła uczestnikom zobaczyć różnicę między teoretycznymi podstawami metrologii a nowoczesnymi rozwiązaniami sprzętowymi stosowanymi obecnie w przemyśle 4.0. Mikroskop z serii VHX udowodnił, że nowoczesna kontrola jakości (QA/QC) oraz inżynieria odwrotna mogą być realizowane z niezwykłą precyzją, a zarazem intuicyjną łatwością obsługi.

Udział w takich warsztatach z pewnością poszerza horyzonty przyszłych inżynierów i przybliża im standardy panujące w nowoczesnych laboratoriach badawczych.