W dniach 12–13 sierpnia w siedzibie firmy PIK Metrology w Chorzowie odbyło się dwudniowe, specjalistyczne szkolenie o charakterze praktycznym, poświęcone technikom badawczym w inżynierii materiałowej, zorganizowane dla pracowników Instytu Automatyki, Elektroniki i Elektrotechniki zangażowanych w realizacje grantu poświęconego badaniom taśm nadprzewodnikowych. Wydarzenie zostało poprowadzone przez ekspertów z firmy PIK Metrology – mgr inż. Jagodę Kaptur oraz dr inż. Jarosława Michałka. Głównym celem spotkania było zapoznanie uczestników z pełnym procesem preparatyki różnego rodzaju taśm nadprzewodnikowych oraz nabycie praktycznych umiejętności w zakresie ich dogłębnej analizy z wykorzystaniem nowoczesnej aparatury mikroskopowej.

1. Różnorodność materiału badawczego i preparatyka
Kluczowym aspektem szkolenia była praca z szerokim spektrum materiałów. Pod kierunkiem prowadzących, uczestnicy poddawali preparatyce trzy główne typy taśm nadprzewodnikowych.

Pierwsza faza prac laboratoryjnych skupiała się na prawidłowym przygotowaniu tych zróżnicowanych próbek. Jagoda Kaptur i Jarosław Michałek szczegółowo omówili i zademonstrowali proces inkludowania (zatapiania) taśm w różnego rodzaju żywicach. Zwrócono szczególną uwagę na fakt, że próbki uszkodzone lub zdegradowane wymagają często innego, bardziej ostrożnego doboru żywicy (np. pod względem skurczu czy temperatury utwardzania), aby nie pogłębić istniejących już defektów strukturalnych.

2. Obróbka mechaniczna: Szlifowanie i polerowanie
W kolejnym etapie odbyło się szkolenie praktyczne z mechanicznego przygotowania zgładów metalograficznych. Pod czujnym okiem ekspertów z PIK Metrology uczestnicy samodzielnie przeprowadzali precyzyjne procesy:

• szlifowania: mającego na celu wyrównanie powierzchni i dokładne odsłonięcie przekroju poprzecznego badanych taśm (nowych, używanych i uszkodzonych),
• polerowania: niezbędnego do uzyskania idealnie gładkiej, pozbawionej zarysowań powierzchni, co ma krytyczne znaczenie dla późniejszego uwidocznienia wielowarstwowej struktury taśm nadprzewodnikowych i mikropęknięć w próbkach zdegradowanych.

3. Analiza mikroskopowa i ocena defektów (Leica DM6 i Thermo Fisher Phenom ProX)
Zwieńczeniem dwudniowych warsztatów była weryfikacja i szczegółowa analiza przygotowanych preparatów na zaawansowanym sprzęcie badawczym. Prowadzący zaprezentowali oraz udostępnili do samodzielnej pracy dwa zaawansowane systemy:

• mikroskop optyczny Leica DM6: wykorzystany do wstępnej oceny jakości wypolerowanej powierzchni, analizy w świetle widzialnym oraz weryfikacji struktury taśm na poziomie makro- i mikroskopowym. Umożliwił on szybką lokalizację większych uszkodzeń mechanicznych czy zmian termicznych na taśmach zdegradowanych;
• skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) Thermo Fisher Phenom ProX: narzędzie to odegrało kluczową rolę w analizie porównawczej. Pozwoliło na wysokorozdzielczą analizę topografii z ogromną głębią ostrości, co umożliwiło uczestnikom szczegółowe obserwacje.

Sierpniowe szkolenie w siedzibie firmy PIK Metrology stanowiło niezwykle cenne uzupełnienie wiedzy z zakresu nowoczesnego materiałoznawstwa i diagnostyki materiałów. Dzięki profesjonalnemu wsparciu i wiedzy przekazanej przez Jagodę Kaptur oraz Jarosława Michałka, uczestnicy mieli możliwość samodzielnego przeprowadzenia pełnego procesu badawczego. Możliwość bezpośredniej pracy z zaawansowanymi technologiami przygotowania próbek oraz specjalistyczną aparaturą (Leica, Thermo Fisher) – ze szczególnym uwzględnieniem analizy porównawczej taśm nowych, używanych i uszkodzonych – pozwoliła na zdobycie bardzo przydatnych, praktycznych umiejętności laboratoryjno-analitycznych.